走査型電子顕微鏡と透過型電子顕微鏡の違い

をスキャンします。最初の非常に小さい世界は、Zaccharias Janssenが最初の現代的な光学顕微鏡を発明した1595年に人類の目に開かれました。このタイプの顕微鏡は、ガラスまたはプラスチックレンズによって散乱された光を使用して、オブジェクトを通常のサイズの2000倍まで拡大します。しかし、科学が何世紀にもわたって進歩するにつれて、より小さい物体を見ることができるより強力な顕微鏡の必要性が浮かび上がった。電子顕微鏡に入る。

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最初の電子顕微鏡は1931年にSiemensのReinhold Rundenbergによって特許取得されました。最初のものははるかに強力ではありませんが、現代の電子顕微鏡は画像を元のサイズの200万倍まで拡大することができます。スケールのアイデアを得るために、電子顕微鏡はDNAのビルディングブロックである個々の核酸を見ることができます。電子顕微鏡は、光学顕微鏡の原理と同様に、静電レンズまたは電磁レンズを通して電子の粒子ビームを通過させることによって、その超微細画像を生成する。しかし、電子ビームの波長は非常に短いので、波長が短いほど解像度が高くなります。

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電子顕微鏡は、いくつかの種類がある一般的なカテゴリです。 2つの最も一般的なものは透過電子顕微鏡と走査電子顕微鏡です。どちらも非常に小さい電子ビームを見るために電子ビームを使用しますが、ビームは異なる方法で動作します。透過型電子顕微鏡は、高出力ビームを使用して、本質的に物体を通して電子を撃つ。電子ビームは、まず集束レンズを通過してビームを物体に集中させる。次に、ビームが物体を通過します。電子のいくつかはすべて通過します。他の人は物体内の分子を打ち、散乱する。次いで、修正されたビームは、対物レンズ、投影レンズおよび蛍光スクリーン上を通過し、最終画像が観察される。電子ビームが物体を完全に通過するので、散乱のパターンは観察された物体の内部の包括的な視野を与える。

<！走査型電子顕微鏡は、透過型電子顕微鏡と同様に、集束電子ビームを用いて物体を透過させない。代わりに、オブジェクトを横切ってビームをスキャンします。走査中、ビームは、その表面上の異なる量のエネルギーを失う。走査型電子顕微鏡は、失われたエネルギーを測定して、物体の表面の3次元画像を生成する。透過型電子顕微鏡ほど強力ではありませんが、走査型電子顕微鏡は、アリのようなより大きな物体の包括的な拡大画像を生成することができます。最近、透過及び走査技術を組み合わせた他の電子顕微鏡が開発されている。しかし、すべての電子顕微鏡、透過、走査またはその他の方法では、電子ビームを使用して物体を拡大するという基本原理を採用する。

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